FIS4-UHR超高分辨率波前传感器

在高精度光学检测中，波前测量的分辨率直接决定了光学元件面形细节的捕捉能力。由浙江大学杨甬英教授及其研发团队推出的FIS4-UHR超高分辨率波前传感器，基于四波前横向剪切干涉技术，无需参考镜，单次采集即可获取双方向波前信息，实现纳米级精度与宽动态范围的实时测量。

作为系列中的旗舰产品，FIS4-UHR完整覆盖激光光束波前检测、自适应光学、平面面形测量、光学系统校准、光学窗口片检测、光学平面、球面面形测量、表面粗糙度检测等全场景应用，无论是高精密光学元件的量产质检，还是前沿科研项目的严苛实验，都能提供稳定、可溯源的纳米级测量结果。

搭配全自研的配套分析软件，用户可实时查看三维形貌、等高图、相位图等多维度数据，一键输出PV、RMS、PSF、MTF等核心参数，自定义测量区域、动态采集波形变化，让复杂的数据分析***直观。

FIS4-UHR超高分辨率波前传感器采用全链路国产自研的架构，不仅实现了性能对标国际***水平，更带来了快速响应的本地化技术支持与定制化服务，无需受制于海外品牌的交付周期与技术限制，真正为用户提供自主可控解决方案。